佑科掃描型紫外可見分光光度計T-UV756

佑科掃描型紫外可見分光光度計T-UV756 儀器特點：

1. 采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統(tǒng)，使儀器光源切換更快速。
2. 準確的2nm帶寬，使測試數(shù)據(jù)更準確。使用進口長壽命光源，使儀器光源切換更快速。
3.*的波長控制系統(tǒng)，使波長精度更高。改良的光學系統(tǒng)，使測試更準確。
4.采用進口的光電轉換器，使儀器的靈敏度更高。
5.新型的微電腦數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。使儀器的使用更簡便，穩(wěn)定性也很好。
6.儀器采用128*64位點陣液晶顯示器，可直接顯示標準曲線和測試數(shù)據(jù)，主機可存儲測試數(shù)據(jù)，并可選配打印機；
UV756CRT型紫外可見分光光度計在UV756的基礎上增加了全波段自動掃描功能和連接微機功能。

佑科掃描型紫外可見分光光度計T-UV756 儀器參數(shù)：

波長范圍：190-1100nm 
波長準確度：±0.5nm
波長重復性：0.2nm
光譜帶寬：2nm
透射比準確度：±0.5%T
透射比重復性：0.2%T
光度范圍：-3~3A ，0-200%T，0~9999C
基線平直度：±0.001A/h
雜散光：0.05%T@220nm、360nm
穩(wěn)定性：±0.001A/小時 @500nm
顯示方式：128*64位點陣液晶顯示
Rs232通訊：USB接口
打印機：選配
分析軟件：支持
自動八聯(lián)比色池：選配
光學系統(tǒng)：雙光束比例監(jiān)測
噪聲水平：±0.001A/2min@500nm